Microscope électronique à balayage
Le Microscope Electronique à Balayage (MEB) Hitachi TM1000 permet de contrôler la topographie des échantillons de l’échelle millimétrique à l’échelle submicronique et de déterminer leur composition chimique par le spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) intégré. Un détecteur d'électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu'à des grandissements de x10.000.





