Microscope électronique à balayage (MEB) couplé à une sonde EDS
Le MEB HITACHI TM-1000 permet l’obtention d’images agrandies en haute résolution (grandissement jusqu’à X10.000) et de vérifier la micro-texture d’un échantillon géologique (roche, sable, fossile). Le MEB utilise le principe des interactions électrons-matière : un faisceau d’électrons balaye la surface de l’échantillon qui va émettre des particules. Ces particules sont ensuite analysées par des détecteurs qui reconstituent une image 3D de la surface de l’échantillon.
La sonde EDS (sonde de spectroscopie à dispersion d’énergie) analyse la composition élémentaire de la surface de l’échantillon.





