NANOSPECTROFLUORIMETRE 
EN CHAMP PROCHE OPTIQUE

MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE

MICROSCOPE EN CHAMP PROCHE OPTIQUE

Le nanofluotimètre est un appareil spécial pour les applications biologiques et médicales. Il est fondé sur la combinaison d'un microfluorimètre confocal à balayage laser (Jobin-Yvon, France) et d'un microscope à champ-proche (Scanning Probes Microscopes SPM) à savoir soit un microscope à force atomique (Atomic Force Microscope AFM), soit un microscope à balayage en champ-proche optique (Scanning Near-field Optical Microscope SNOM). Ceci permet d'effectuer des mesures spectroscopiques et microscopiques de la surface de l'échantillon lors du balayage par différents modes opératoires. L'utilisation simultanée de tables motorisées pour le positionnement de l'échantillon et de la tête de mesure permet de choisir la zone d'intêret et de placer finement l'échantillon par rapport à la tête. Ce dispositif rend donc possible l'analyse de caractéristiques très locales de l'échantillon biologique dans des conditions ambiantes ou physiologiques avec une résolution nanométrique. 

Spectrographe : MicroFluo (France)
Microscope optique inversé : Olympus IX-70 (Japon)
SPM : têtes remplacables AFM/SNOM, SNOM fabriquées au laboratoire
Scanner SPM : 50x50x20 mm (Israël)
Positionnement de l'échantillon en XY : mécaniquement pour les déplacements importants et inertiellement pour les déplacements fins
Contrôleur électronique SPM : contrôleur numérique NT-MDT associé à un compteur de photon (Russie)
Visualisation de la tête : mini caméra CCD
Vibroprotection : table anti-vibratio

Modes de mesure AFM/SNOM : contact/"taping" (rebond de la pointe suite à son interaction avec la surface) dans l'air ou dans un liquide, et imagerie topographique/de force/optique.
Modes de mesure SNOM : modes transmission/collection/illumination/réflection et imagerie optique/contrainte de cisaillement (amplitude/phase/polarisation/fluorescence).
Modes spectroscopiques : confocal/SNOM

Résolutions : en mode confocal la résolution est inférieure à 0.7 microns en latéral et à 1 micron en axial, en mode AFM elle est de l'ordre du nanomètre et en SNOM elle est supérieure à 50 nm.