Equipements

MICROSCOPE ELECTRONIQUE ANALYTIQUE TRANSMISSION

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Microscope Electronique à Balayage Transmission PHILIPS CM 30

- microscope analytique TEM / STEM moyenne tension (jusqu'à 300 kV) avec filament en hexaborure de Lanthane (LaB6)
- porte-objets goniométriques (double et simple tilt)
- porte-objets froids GATAN
- spectrométrie par sonde électronique d'échantillons minces (épaisseur < µm) par transmission et par balayage.
- diffraction électronique

Spectromètre de dispersion d’énergie des photons X EDAX

- spectromètre rétractable muni d'une diode en Si(Li) de 30 mm².
- résolution de 135 eV (raie Mn K)
- fenêtre ultrafine (< 0,3 µm) qui permet la détection des éléments légers (B, C, N, O, F...)
- quantification et localisation des éléments et ions dans les cellules et tissus dans leur état physiologique (logiciel de quantification développé au laboratoire et logiciel de cartographie Phoenix)
- études à l'échelle microscopique et nanoscopique

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Spectromètre de pertes d’énergie des électrons ENFINA 1000 GATAN - résolution en énergie jusqu'à 0.7 eV, résolution spatiale inférieure au nm.

- détection et quantification de tous les éléments
- détecteur STEM Champ clair/Champ sombre on axis rétractable avec électronique associée
- module DIGISCAN permettant le contrôle numérique du faisceau et l'acquisition des images numériques
- ensemble de logiciels SPECTRUM Imaging permettant la reconstitution d'images de pertes d'énergies
- analyse des liaisons chimiques et mesure locale de la concentration en eau dans les biomatériaux, les tissus et les cellules

MICROSCOPES COMBINES

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Microscope Electronique à Balayage (MEB) LEO Gemini 982

- microscope équipé d'un canon à émission de champ
- microscope adapté pour être combiné à un AFM
- possibilité d'observer à basse tension des échantillons isolants à très haute résolution

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Microscope à force atomique (AFM)

- microscope fabriqué au laboratoire
- microscope adapté pour être combiné au MEB LEO Gemini 982
- microscope convertible en SNOM pour les études de cathodoluminescence et adaptable pour les modes modulation de force latérale (MLFM) et modulation de force magnétique (MFMM) pour les études nanomécaniques.

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Microscopes AFM et MEB combinés

- Appareil unique en France
- Possibilité d'étudier la cathodoluminescence en champ proche optique avec une résolution de 100 nm
- Possibilité d'étudier sous vide secondaire la topographie des surfaces, de mesurer la rugosité et les propriétés nanomécaniques (module élastique, module de cisaillement, friction) de surface

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MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE

Microscope à Force Atomique NT-MDT Smena

- Système "stand-alone" qui permet d'imager de grands échantillons.
- Mode contact , tapping, non-contact : Tous les signaux sont accessibles, traitables extérieurement, puis acquis comme images de données à partir de prises externes.
- Etude de la topographie et de la rugosité de surface

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NANOINDENTEUR

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Nanoindenteur Hysitron Triboscope

- Nanoindenteur installé sur un Digital Instrument nanoscope II.
- Mesure du module d'Young et de la dureté ( maximum Force : 10 mN ). Il permet notamment une comparaison de mesures AFM avec un système "standard".
- Mesure du coefficient de friction et "scratch test"
- Pointes Berkovitch et Cube Corner
- Le signal de mesure de force peut être couplé à la boucle de régulation de l'AFM pour servir à imager l'échantillon avec les pointes d'indentation.

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ELECTRONIQUE ORGANIQUE

Boîte à gants

Boîte à gants sous azote équipée d’une tournette, d’une plaque chauffante et d’une station de mesure électrique sous pointe

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Profilomètre

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Outil de caractérisation rhéologique

Goniomètre et viscosimètre de table.

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Imprimante jet d’encre

Imprimante jet d’encre pour dépôt de matériaux organique

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Cryostat

Cryostat (4-400K) sous pointes.

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AFM/KFM

AFM/KFM en boîte à gant

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ELABORATION

Elaboration

- Potentiostat/Galvanostat (Voltalab PGZ301)
- Microbalance Quartz (PM710)
- Sputter (Cressington 108)

HIGH SPEED ATOMIC FORCE MICROSCOPE (HS-AFM)

Microscope à force atomique haute-vitesse

High-Speed Atomic Force Microscope - Ando's setup

- Biomolecular process observations with video rate

- Up to 30 x 30 µm² characterization area

Mode-Synthesizing Atomic Force Microscopy

Based on the use of an atomic force microscope, the MSAFM microscopy uses multifrequency signals to characterize non-invasively samples such as nanomaterials, biological systems, soft matter, electronical components etc.

MSAFM Setup